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航太與機械查詢結果

技術類別 航太與機械
技術名稱 掃描式電子顯微鏡
技術簡介 ●15KV
倍率:150,000×
WD:12mm
解析度: 1.5nm
●1KV
倍率:120,000×
WD:1.5mm
解析度: 2.1nm
技術規格
技術特色
應用範圍 ●元件表面結構狀態分析。
●薄膜表面及厚度觀察。
●半導體線寬量測。
●生物細胞結構觀察。
●地質礦物結晶形貌分析。
主要機儀具
主要實驗室 XXXX實驗室
(含xxxxx認證)
聯絡窗口 356563
電 話 簡志成
備考