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::: 可授權專利

高溫熱電材料性質量測台STAGE FOR MEASURING HIGH TEMPERATURE PORPERTIES OF THERMOELECTRIC MATERIALS

創作型式：
專利證號：
I417537
發明人：
張立信 CHANG, LI SHIN TW;盧裕豐 LU, YU FENG TW;吳歷杰 WU, LI JIE TW;許文豪 SHIU, WEN HAO TW;李進興 LEE, JINN SHING TW;魏明雄 WEI, MING HSIUNG TW
國別：
中華民國
獲證日期：
20131201
專利摘要：
本發明揭露一種高溫熱電材料性質量測台，包含一固定架、一活動夾持部、一第一固定座、一第二固定座及一連動桿。該活動夾持部與該固定架樞接。該第一固定座固定於該活動夾持部上。該第二固定座對應該第一固定座，固定於該固定架上。該連動桿與該活動夾持部樞接。其中，該連動桿可被操作以使該第一固定座相對該第二固定座移動，使得一樣品可脫離地被夾持於該第一固定座與該第二固定座之間。本發明藉由該連動桿連動該活動夾持部以使樣品始終被夾持於該第一固定座及該第二固定座之間，進而克服量測台因溫度的尺寸變化所產生的影響。
IPC國際分類號：
G01N-025/32(2006.01);F16M-013/00(2006.01)