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::: 可授權專利

薄膜太陽電池撓曲物理特性及效率量測裝置A MEASURING APPARATUS FOR PHYSICAL PROPERTIES AND EFFICIENCY OF THIN FILM SOLAR CELLS DURING DEFLECTION

創作型式：
專利證號：
M435728
發明人：
林義成 LIN, YI CHENG TW;施冠宇 SHIH, QUAN YU TW;施宗宏 SHIH, ZONG HONG TW;彭祥育 PENG, HSIANG YU TW;吳政翰 TW;項裕德 SHIANG, YUH DER TW
國別：
中華民國
獲證日期：
20120811
專利摘要：
本創作為關於一種薄膜太陽電池撓曲物理特性及效率量測裝置，該裝置包括：太陽光模擬器、一體式夾具、撓曲量產生器、固定支架及裝置載台；薄膜太陽電池撓曲物理特性及效率量測裝置可直接量測撓曲量對於薄膜太陽電池物理特性及效率的影響。
IPC國際分類號：
H01L-031/18(2006.01)