專利摘要：
本創作有關於一種高頻電路板之量測治具，其包括有一承載金屬板之底座，金屬板上置放有一包括有複數個第一/第二探測點之電路板，一訊號量測器及一數位輸入介面分別經由複數個第一/第二探針電性接觸第一/第二探測點而輸入一類比/數位測試訊號至電路板，以令電路板分別產生一類比/數位量測訊號，並經由第一探針傳送至訊號量測器，此外，類比測試訊號需透過一放大電路適度放大，以避免電路板使用一衰減的類比訊號進行測試，藉此，電路板設置於一高導電性之金屬板上及使用一放大的類比測試訊號進行高頻測試，將可得到更精確的量測結果。