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::: 可授權專利

光通訊傳輸系統之快速量測方法

創作型式：
發明
專利證號：
TWI232926
發明人：
陳自強、夏夢麟、王孫震、詹黃宗
國別：
中華民國
獲證日期：
2004/04/27
專利摘要：
一種光通訊傳輸系統之快速量測方法，於測試時針對光通訊傳輸系統之發射端，外加特殊的訊號如直流率位偏移(DC offset)或可加性白色高斯雜訊(Additive White Gaussian Noise；AWGN)，來提高此系統發生錯誤的機率，以便能在較短的時間內蒐集到足夠數量的錯誤訊號來作系統評估，而可大量減少測試所需的樣本訊號，進而縮短測試所需的時間，達到快速量測出系統誤碼率的效果。
IPC國際分類號：
G01J001100