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::: 可授權專利

面板構件之結構測試方法及其機構

創作型式：
發明
專利證號：
TWI294519
發明人：
王多聞、王冀翬、黃峻源、吳國維、王紀瑞、許丕杰、柯正忠
國別：
中華民國
獲證日期：
2004/05/24
專利摘要：
一種面板構件之結構測試方法及其機構，係將面板構件支撐於一真空槽上，並使用如柔性包裝材及密封膠等的密封結構將面板構件與真空槽結合密封，再將真空槽抽真空，使槽內與槽外產生氣壓差，提供所需之壓力測試面板構件強度與剛性。由於本發明可使面板構件受力一致，且施力均勻，因而益於測試。
IPC國際分類號：
G01N000310