*

::: 可授權專利

雷射測速儀校正系統及其方法

創作型式：
發明
專利證號：
TWI465756
發明人：
葉東明
國別：
中華民國
獲證日期：
2012/11/30
專利摘要：
本發明係為一種雷射測速儀校正系統，其特點在於直接使用待測之雷射測速儀進行測試，利用模擬方式進行測速儀校正，其速度產生裝置係包括：一旋轉單元，一轉速控制單元，及設置於相對該雷射測速儀之一端之時間控制單元，用以反射該雷射測速儀產生之測試訊號，透過該旋轉單元遮蔽後產生不同時間之反彈訊號，當該雷射測速儀接受到反彈訊號後，藉由比對兩訊號接收時間差，達到模擬物件速度之目的，進一步達到校正雷射測速儀之功效。
IPC國際分類號：
G01P002102