*

::: 可授權專利

一種化合物薄膜太陽電池鉬背電極之歐姆接觸膜層結構

創作型式:
新型
專利證號:
TWM477050
發明人:
倪國裕、薄慧雲、林瑤冷、吳政翰、王麗睛、林義成
國別:
中華民國
獲證日期:
2013/12/19
專利摘要:
一種高效率化合物薄膜太陽電池之元件結構,其鉬(Mo)背電極/吸收層界面具有一厚度範圍100nm至250nm的二硒化鉬(MoSe2)層,其存在可形成理想的歐姆接觸(ohmic contact)及形成背電場效應(Back surface field,BSF),可減少電子與電洞之復合,進而提升電池發電效率,並可使背電極與吸收層的附著性提高。然而,MoSe2層並非良好導體,過厚的MoSe2層不利於薄膜太陽能電池之性能,適當的MoSe2層厚度有助提升化合物薄膜太陽電池發電效率。本專利涉及一種簡單方式控制化合物薄膜太陽電池Mo背電極生成MoSe2層厚度之方法,包括透過改變Mo背電極濺鍍功率及不同Mo:Na/Mo薄膜堆疊厚度比例可有效控制MoSe2層厚度,進而提升電池發電效率。
IPC國際分類號:
H01L0031042