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::: 可授權專利

轉速量測裝置校正系統及其方法

創作型式：
發明
專利證號：
TWI613536
發明人：
葉東明
國別：
中華民國
獲證日期：
2016/09/08
專利摘要：
本發明係提供一種轉速量測裝置校正系統，係利用比對校正法進行轉速裝置校正，利用訊號產生模組產生特定頻率之光訊號，透過接收該光訊號，俾使待校正轉速量測裝置產生一轉速器示值；該電訊號係透過處理單元運算，產生一轉速標準值，藉由比對該轉速標準值及該器示值，取得該轉速標準值及該器示值之器差值，利用器差值修正轉速量測數據，以達該待校正轉速量測裝置之校正目的。
IPC國際分類號：
G02F000202