*

::: 可授權專利

陣列天線檢測校正方法

創作型式：
發明
專利證號：
TWI627840
發明人：
黃亮儒、張博淳、陳君豪
國別：
中華民國
獲證日期：
2016/12/09
專利摘要：
本發明係為一種陣列天線檢測校正方法，其先透過信號分析器分析增益大小進行增益衰減補償，再利用一直流偏移產生器產生一組已知直流偏移量加入信號中，藉此與原始信號於接收端比對可得相位偏移量進行天線校正。藉由此方法來降低運算複雜度及加快校正速度。
IPC國際分類號：
H01Q002100