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::: 可授權專利

光斑影像三維位移量測方法及其應用

創作型式：
發明
專利證號：
TWI646305
發明人：
劉立中、張偉國、黃宜裕
國別：
中華民國
獲證日期：
2017/12/26
專利摘要：
一種光斑影像三維位移量測方法及其應用，整合二個光源、二個感測器、一訊號處理元件，用以量測兩組光斑的移動行為，判斷出工作物件之相對位移量，藉此，利用此光斑影像三維位移量測方法，可以獲得精確的三維相對位移量，進而應用於機械手臂定位誤差補償裝置。
IPC國際分類號：
G01B001100