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::: 可授權專利

基於深度學習之高效率光達物件偵測方法

創作型式：
發明
專利證號：
TWI745204
發明人：
花凱龍、張峰嘉、蕭有崧、簡士哲、莊定為
國別：
中華民國
獲證日期：
2020/12/28
專利摘要：
本發明係提供一種基於深度學習之高效率光達物件偵測方法，步驟包括：(A)由一光達取得一三維點雲數據，該三維點雲數據為Nx4維的資訊，N為光達點數目，每個光達點具有x軸值、y軸值、z軸值之空間資訊及反射強度資訊；(B)藉由空間轉換矩陣旋轉位移該三維點雲數據之該空間資訊；(C)將該三維點雲數據做多次的一維卷積擴充特徵維度，並經池化得出高維度的特徵；(D)將該三維點雲數據映射出二維影像提取出點雲二維特徵；以及(E)將該高維度的特徵及該點雲二維特徵輸入調節模型做特徵調節。
IPC國際分類號：
B60W006000