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公告本院可運用之智慧財產權:一種均勻碳化矽晶體製備裝置

公告日期:2024/08/21

 

公告內容說明表

公告名稱

 一種均勻碳化矽晶體製備裝置

技術領域

 化工與材料、能源與環境

產業應用範圍

 半導體材料、綠能科技

公告智權項目

項次

權利類別

智慧財產權名稱

1

專利

一種均勻碳化矽晶體製備裝置

 

智慧財產權公告摘要:

 項次1

智慧財產權名稱

一種均勻碳化矽晶體製備裝置

權利類別

專利

權利技術簡介(摘要)

本發明係揭示一種成長均勻半絕緣碳化矽晶體的裝置,藉由物理氣相傳輸法(physical vapor transport, PVT),設計長晶裝置材質與幾何構型,進一步控制長晶系統內的深層能階補償元素濃度及分布,一旦改變長晶系統內長晶裝置材質幾何構型後,在晶體生長過程中可以有效使摻雜元素進入晶體內,使整體電阻率分布更加均勻,提高晶體整體電阻率合格可用區域。

專利申請國別

及專利號

中華民 發明第 I723650 號
日本 特許第6952098號
美國 US 11,072,871 B2

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連絡資訊:

軍民通用中心

朱芷葦  技術師

(03)4712201#329507

ipo@ncsist.org.tw

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