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專利名稱 輻射測定系統
專利證號 157272
國別 中華民國
獲證日期 20020621
專利摘要 一種輻射測試系統係耦接至輻射測試場的輻射控制器，此輻射控制器記錄輻射粒子流量及待測元件的測試結果，並控制產生輻射粒子的加速器，以產生具有週期性的輻射來照射待測元件，此輻射測試系統包括：一測試子板、一測試母板、一電源供應器、一近端監控器以及一遠端監控器。近端監控器用以啟動一測試程式進行測試，監視與記錄待測元件之測試的狀態與資料，遠端監控器可遠端遙控近端監控器，以進行待測元件的輻射照射測試，並可接收近端監控器所送出的測試資料，以判斷待測元件經輻射。

IPC國際分類號

G01T-001/00(2006.01);(IPC 1-7) : G01T-001/00