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| 專利名稱 | 材料熟化程度檢測裝置 | | 專利證號 | M337465 | | 國別 | 中華民國 | | 獲證日期 | 20080801 | | 專利摘要 | 本創作係關於一種材料熟化程度檢測裝置,包括基座設有第一、二及第三基座孔;移動件位於基座上方,且移動部具有第一、二移動穿孔、移動螺旋穿孔及一夾持孔;抵持固定件位於移動件上方,抵持固定件設有第一、二固定孔及抵持孔;量測柱穿設於第一移動穿孔,其上端設於第一固定孔及下端設於第一基座孔;固定柱穿設於第二移動穿孔,其上端設於第二固定孔及下端設於第二基座孔;旋轉螺桿穿設於抵持孔、移動螺旋穿孔及第三基座孔;及彈性接觸件穿設固定於夾持孔,旋轉螺桿轉動時,彈性接觸件作上下之移動。本創作能即時量測高分子材料之熟化程度。 | IPC國際分類號 | B29B-013/02(2006.01) |
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