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專利名稱	薄膜太陽電池撓曲物理特性及效率量測裝置A MEASURING APPARATUS FOR PHYSICAL PROPERTIES AND EFFICIENCY OF THIN FILM SOLAR CELLS DURING DEFLECTION
專利證號	M435728
國別	中華民國
獲證日期	20120811
專利摘要	本創作為關於一種薄膜太陽電池撓曲物理特性及效率量測裝置，該裝置包括：太陽光模擬器、一體式夾具、撓曲量產生器、固定支架及裝置載台；薄膜太陽電池撓曲物理特性及效率量測裝置可直接量測撓曲量對於薄膜太陽電池物理特性及效率的影響。
IPC國際分類號	H01L-031/18(2006.01)

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