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專利名稱 不變形光斑取像裝置及其方法
專利證號 I340910
國別 中華民國
獲證日期 20110421
專利摘要 本發明係為一種不變形光斑取像裝置及其方法，該不變形光斑取像裝置包含一光發射器、一限光模組及一感測器，該限光模組設於該感測器前，該限光模組係包含複數限光件，該些限光件係排列為一維或二維陣列，當該光發射器發射一光源至一物體表面，產生至少一散射光，通過該限光模組限制該至少一散射光，並產生複數繞射光，該些繞射光相互干涉產生複數不變形光斑，且成像於該感測器上，最後依據該些光斑得到一大面積且不變形之光斑圖。因該光斑圖為不變形的，且該光斑圖記錄了物體表面三維變化之特徵，所以該不變形光斑取像裝置可應用於電腦滑鼠、手指導覽器、智慧卡、三維指紋身份辨識裝置或機械手臂精密定位系統等。

IPC國際分類號

G06F-003/033(2006.01)