::: 產業服務
*

::: 技術移轉

專利名稱 球面像差之自動量測系統及量測方法
創作型式 發明
專利證號 TWI308636
國別 中華民國
獲證日期 2006/09/12
專利摘要 本發明係為一種球面像差之自動量測系統及量測方法，其包括一光源發出之光束穿透一第一透鏡部後變成平行光束，此光束經一液晶顯示面板及一第二透鏡部後，聚焦於一自動化位移之半透明螢幕上，此液晶顯示面板可精準改變此光束之透光狀態；一影像擷取裝置可精準確認此半透明螢幕上之聚焦位置；一影像處理裝置從此影像擷取裝置接收此光束而得到一光線分佈資料；一計算裝置接收此光線分佈資料並運算出一球面像差數據，如此兼具自動化半透明螢幕位移快速、影像擷取裝置確認聚焦位置相當準確、液晶面板調整光束透光狀態之精度高，以及電腦計算球面像差精度高等優點。

IPC國際分類號

G01M001104
聯絡人 王淳右
電話 #329655
EMAIL f591frank@ncsist.org.tw