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專利名稱 使用彩色光柵次像素定位與單螢幕之子母畫面切換的三維輪廓量測方法與重建系統
創作型式 發明
專利證號 TWI287615
國別 中華民國
獲證日期 2006/09/12
專利摘要 本發明係為一種使用彩色光柵次像素定位與單螢幕之子母畫面切換的三維輪廓量測方法與重建系統，其方法包括一．預備步驟、二．投影步驟、三．擷取影像步驟、四影像微調步驟、五．影像處理步驟，及六．重建步驟；其系統包括設一投影裝置朝一待測工件照射一光柵；於此待測工件上形成一光柵影像，此光柵影像之複數柵線的對比度均相同；一中央處理單元利用此光柵影像，配合其顯示器之子母畫面微調並重建此待測工件之三維輪廓；如此達到光柵具有相同的對比度較易分辨、顯示器具有可切換之子母畫面以及具有調整模組可以調整光柵。

IPC國際分類號

G01B001124
聯絡人 王淳右
電話 #329655
EMAIL f592frank@ncsist.org.tw