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專利名稱 高精度色像差及畸變像差之自動量測系統及量測方法
創作型式 發明
專利證號 TWI328110
國別 中華民國
獲證日期 2007/02/14
專利摘要 本發明係為一種高精度色像差及畸變像差之自動量測系統及量測方法，其包括一光源發出一平行之有色光束；此光束穿透一透光控制部後，在一半透明螢幕上產生一四角影像；一計算裝置接收此四角影像，運算出其中心點/旋轉角度，用以提昇調整一手機透鏡之色像差及畸變像差的精度，其量測方法包括：一．色像差量測步驟，及二．畸變像差量測步驟，如此兼具自動化半透明螢幕位移快速、影像擷取裝置確認成像相當準確、透光控制部調整光束透光狀態之精度高，及電腦計算色像差及畸變像差之精度高等優點。

IPC國際分類號

G01M001102
聯絡人 王淳右
電話 #329655
EMAIL f627frank@ncsist.org.tw