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專利名稱 線段投影光柵量測之光場補償方法及裝置
創作型式 發明
專利證號 TWI315393
國別 中華民國
獲證日期 2007/02/14
專利摘要 本發明係為一種線段投影光柵量測之光場補償方法及裝置，藉由下述步驟：一．準備步驟、二．無光柵影像產生步驟、三．有光柵影像產生步驟、四．影像結合補償步驟、五．投影暨擷取影像步驟、六．三維輪廓分析暨重建步驟以及七．完成步驟；以一影像處理裝置、一投影裝置及一攝影裝置相互配合，先後對預定之無光柵/有光柵影像進行影像處理/影像補償；而可以擷取一清楚明確之影像，對一待測工件進行三維輪廓量測與重整，如此兼顧具有光場補償功能以及可以線段投影法簡單算出待測工件之高度等功效。

IPC國際分類號

G01B001124
聯絡人 王淳右
電話 #329655
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