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專利名稱 面板構件之結構測試方法及其機構
創作型式 發明
專利證號 TWI294519
國別 中華民國
獲證日期 2004/05/24
專利摘要 一種面板構件之結構測試方法及其機構，係將面板構件支撐於一真空槽上，並使用如柔性包裝材及密封膠等的密封結構將面板構件與真空槽結合密封，再將真空槽抽真空，使槽內與槽外產生氣壓差，提供所需之壓力測試面板構件強度與剛性。由於本發明可使面板構件受力一致，且施力均勻，因而益於測試。

IPC國際分類號

G01N000310
聯絡人 王淳右
電話 #329655
EMAIL f735frank@ncsist.org.tw