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專利名稱 光電系統之調校裝置與調校方法
創作型式 發明
專利證號 TWI315787
國別 中華民國
獲證日期 2006/11/29
專利摘要 本發明係有關於一種光電系統之調校裝置與調校方法，一種光電系統之調校裝置包含一平行光源產生裝置，一固定件設置並遮蔽於平行光源產生裝置之第一端，一承載座設置於固定件之一側，一滑動件設於承載座之上方。光電系統之調校方法，首先，依序校準一光電系統之複數個檢知器，校準時其檢知器與外界光線隔離；接著，使用一平行光垂直照射於檢知器；最後，調整檢知器之受光面。如此可增加檢知器放大率的準確性，更提昇光電系統調校之便利性。

IPC國際分類號

G01M001100
聯絡人 王淳右
電話 #329655
EMAIL f760frank@ncsist.org.tw