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專利名稱 一種高精度編碼器精度校正之方法
創作型式 發明
專利證號 TWI577972
國別 中華民國
獲證日期 2015/12/18
專利摘要 一種高精度編碼器精度校正之方法，步驟包括：(A)利用一不變形光斑取像裝置對旋轉一圈每次以一校正角度旋轉的一圓盤狀編碼器，擷取複數不變形光斑影像，該不變形光斑取像裝置包含一二維影像感測器，該二維影像感測器的座標軸與該圓盤狀編碼器的座標軸夾一α角；(B)比較旋轉一圈第一張光斑影像及最後一張光斑影像之相對位移向量，得到一個對心誤差位移量，若該對心誤差位移量大於該不變形光斑取像裝置之一定位精度，進行步驟(C)；取得該圓盤狀編碼器的平均旋轉半徑；利用SIFT(Scale Invariant FeatureTransform)或SURF(Speed Up Robust Feature)比對方法，比較相鄰兩張光斑影像獲得之間位移向量，利用該圓盤狀編碼器的平均旋轉半徑及位移向量來標定該圓盤狀編碼器的座標向量，再由相鄰兩個座標向量之內積，精準獲得每個光斑影像之定位角度；其中，在使用該不變形光斑取像裝置感測該圓盤狀編碼器而得的位移向量，皆利用一α轉動矩陣演算法將該位移向量作轉換。藉此，可消除光斑暗區及圓盤對心誤差，以完成高精度編碼器的高精度校正。

IPC國際分類號

G01D0005347
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