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專利名稱 慣性量測裝置校正系統
創作型式 發明
專利證號 TWI686610
國別 中華民國
獲證日期 2016/08/12
專利摘要 本發明係提供一種慣性量測裝置校正系統，利用比對方式，進行待測慣性量測裝置之校正系統，該系統係包括一具有連接單元及旋轉裝置之作動模組、一設置於該作動模組一側之訊號傳輸模組，及一處理模組，利用該作動模組驅動該待測慣性量測裝置，透過該訊號傳輸模組連接該待測慣性量測裝置，並傳輸該待測慣性量測裝置所產生之訊號，利用該處理模組接收該待測慣性量測裝置，及作動模組所產生之訊號，並顯示該待測慣性量測裝置之測定值，及該作動模組所產生之測定數值，藉以達到量測及校正待測慣性量測裝置之目的。

IPC國際分類號

G01P002100
聯絡人 王淳右
電話 #329655
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