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專利名稱 陣列天線檢測校正方法
創作型式 發明
專利證號 TWI627840
國別 中華民國
獲證日期 2016/12/09
專利摘要 本發明係為一種陣列天線檢測校正方法，其先透過信號分析器分析增益大小進行增益衰減補償，再利用一直流偏移產生器產生一組已知直流偏移量加入信號中，藉此與原始信號於接收端比對可得相位偏移量進行天線校正。藉由此方法來降低運算複雜度及加快校正速度。

IPC國際分類號

H01Q002100
聯絡人 王淳右
電話 #329655
EMAIL f1225frank@ncsist.org.tw