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專利名稱 光斑影像三維位移量測方法及其應用
創作型式 發明
專利證號 TWI646305
國別 中華民國
獲證日期 2017/12/26
專利摘要 一種光斑影像三維位移量測方法及其應用，整合二個光源、二個感測器、一訊號處理元件，用以量測兩組光斑的移動行為，判斷出工作物件之相對位移量，藉此，利用此光斑影像三維位移量測方法，可以獲得精確的三維相對位移量，進而應用於機械手臂定位誤差補償裝置。

IPC國際分類號

G01B001100
聯絡人 王淳右
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