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專利名稱 溫度量測校正方法、電子系統及校正迴歸係數表的產生方法
創作型式 發明
專利證號 TWI651519
國別 中華民國
獲證日期 2017/12/26
專利摘要 一種溫度量測校正方法，用於一溫度感測裝置，該溫度感測裝置包含有一機殼以及設置於該機殼內部之一焦平面陣列模組，該溫度量測校正方法包含有：量測一環境背景溫度、該機殼之溫度以及該焦平面陣列模組之操作溫度；根據該環境背景溫度、該機殼之溫度以及該焦平面陣列模組之操作溫度，決定出複數個熱輻射校正迴歸係數；利用該溫度感測裝置感測一物體所輻射出之紅外線能量，以產生一電子訊號；以及根據該複數個熱輻射校正迴歸係數以及該電子訊號計算出該物體之一實際溫度值。

IPC國際分類號

G01J000500
聯絡人 王淳右
電話 #329655
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