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專利名稱 一種多軸加工裝置及其補償方法
創作型式 發明
專利證號 TWI717162
國別 中華民國
獲證日期 2019/12/20
專利摘要 本發明提供一種平面型三維位移感測器,應用於多軸加工裝置,藉由該三維位移感測器量測多軸加工裝置,達成一可以有效去除各種變形效應的多軸加工裝置及補償方法。

IPC國際分類號

B23Q001722
聯絡人 王淳右
電話 #329655
EMAIL f1451frank@ncsist.org.tw