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專利名稱 基於深度學習之高效率光達物件偵測方法
創作型式 發明
專利證號 TWI745204
國別 中華民國
獲證日期 2020/12/28
專利摘要 本發明係提供一種基於深度學習之高效率光達物件偵測方法，步驟包括：(A)由一光達取得一三維點雲數據，該三維點雲數據為Nx4維的資訊，N為光達點數目，每個光達點具有x軸值、y軸值、z軸值之空間資訊及反射強度資訊；(B)藉由空間轉換矩陣旋轉位移該三維點雲數據之該空間資訊；(C)將該三維點雲數據做多次的一維卷積擴充特徵維度，並經池化得出高維度的特徵；(D)將該三維點雲數據映射出二維影像提取出點雲二維特徵；以及(E)將該高維度的特徵及該點雲二維特徵輸入調節模型做特徵調節。

IPC國際分類號

B60W006000
聯絡人 王淳右
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