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專利名稱 機械手臂重複定位精度量測之裝置及方法
創作型式 發明
專利證號 TWI745205
國別 中華民國
獲證日期 2020/12/28
專利摘要 本發明係提供一種機械手臂重複定位精度量測之裝置，利用申請人開發的光斑三維位移感測器，配合已經建立光斑座標資料庫的低熱膨脹量之光斑影像三維定位基座，建立光斑三維絕對定位空間。將光斑三維位移感測器安裝於機械手臂末端執行器上，移動機械手臂使光斑三維位移感測器進入光斑三維絕對定位空間內，擷取定位點之光斑影像與光斑座標資料庫之座標光斑影像比對，就可獲得此時機械手臂末端執行器之三維絕對定位座標。

IPC國際分類號

B25J001900
聯絡人 王淳右
電話 #329655
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