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::: 研發成果

專利權

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【年度】98 年研發成果
【項目】 專利權
【領域】 關鍵技術科專
【類別】 電資通光
計畫名稱 光電感測辨識模組與應用技術計畫
專利名稱 Measurement Method of Three-Dimensional Profiles and Reconstruction System Thereof Using Subpixel Localization with Color Gratings and Picture-in-Picture Switching on Single Display
發明人 林宸生、李志法、葉茂勳、林嘉毫、古士良
國家 美國
性質 發明
技術摘要 本發明為使用彩色光柵次像素定位與單螢幕之子母畫面切換的三維輪廓量測方法與重建系統，量測過程可降低背景光干擾，且具備快速且精確量測等優點，可應用於光學元件或模具非接觸式三維表面輪廓自動化檢測設備或產品上。
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