*

::: 研發成果

專利權

* *
【年度】102 年研發成果
【項目】 專利權
【領域】 關鍵技術科專
【類別】 電資通光
計畫名稱 光電半導體元件與系統應用關鍵計畫
專利名稱 投影效應校準方法
發明人 廖志明
國家 中華民國
性質 發明
技術摘要 本發明提供一種投影效應校準方法。首先使光學導覽系統相對於物平面沿預定軌跡移動；接著，藉由感測器感測預定軌跡，進而獲得投影軌跡。隨後，根據經反射之光線與物平面之間之夾角計算投影效應值。最後，以投影效應值校正投影軌跡，進而獲得與預訂軌跡等比例之效正軌跡。
聯絡人姓名