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論文
【年度】100
年研發成果
【項目】
論文
【領域】
關鍵技術科專
【類別】
電資通光
| 計畫名稱 | 光電感測辨識模組與應用技術計畫 | | 論文名稱 | Application of laser speckle technology in solar wafer roughness inspection system | | 論文類型 | SCI期刊 | | 發表處 | INDIAN JOURNAL OF PURE & APPLIED PHYSICS, Vol.49, 2011.08, pp523-530 | | 發表人 | Chern-Sheng Lin, Chian Min Haun, Fu Shu Hsien, Mau-Shiun Yeh, Chi-Shih Chao, Ralph Chen | | 發表日期 | 100/08/01 | | 國家 | 國外 | | 內容摘要 | |
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