|
技術類別
|
儀具校驗
|
|
技術名稱
|
各式阻抗(KF30)、電磁量(KG10)、磁量(KG20)、光量(KG3等之校正
|
|
技術簡介
|
各式網路分析儀、微波衰減器、空導線、延遲線，導波管，方向耦合器，不匹配器，隔離器，功率分配器，移相器，微波校正器件組，微波驗證器件組…等之校正
|
|
技術規格
|
校正範圍: 反射 0 to 1
(10 MHz to 50 GHz)
透射10 dB ~ -95 dB
(10 MHz to 50 GHz)
擴充不確定度: 反射0.0062 ~ 0.0128
(0.93°~ 7.05°)
透射0.051 dB ~ 0.108 dB (0.21°~5.64°)
|
|
技術特色
|
工程師具備二十餘年相關實務經驗
、10萬級無塵及國軍一級校正實驗室
|
|
應用範圍
|
各式網路分析儀、微波衰減器、空導線、延遲線，導波管，方向耦合器，不匹配器，隔離器，功率分配器，移相器，微波校正器件組，微波驗證器件組…等
|
|
主要機儀具
|
微波阻抗校正系統
|
|
主要實驗室
|
TAF認證實驗室
(認證編號：TAF－0150)
|
|
聯絡窗口
|
劉有生
|
|
電 話
|
356039
|
|
備考
|
|