| 項 次 | 技術名稱 | 技術簡介 | 應用範圍 |
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| 1 | 天線增益/場型 | 1.天線遠場場型量測實驗室:適用室內遠場各型天線場型量測。
2.近場場型量測系統:適用較高增益(³15dBi)之各類型天線之場型量測。 | 1.天線遠場場型量測實驗室:HP83640B、HP8511A、HP8530A、ORBIT FR AL-4806-3A etc。
2.近場場型量測系統:HP-PNA-X、HP-85310A、NSI 400V-20X22 etc。... |
| 2 | 目視檢驗 | 1.原稿目視檢驗
2.PCB裸板目視檢驗
3.PCA電路板組裝工藝檢驗 | 品保檢驗... |
| 3 | 雷達罩微波電性量測 | 1.檢測頻率範圍:X、ku、ka band
2.傳輸損失、指向誤差(率)、場型
3.傳輸損失:±0.1dB
4.指向誤差: ±0.2mr | ... |
| 4 | 材料之微波介電特性量測 | 1.檢測材料為固體
2.檢測頻率範圍:26.5~40GHz
精度:介電常數:±5% | ... |
| 5 | 衛星通訊設備維護 | 1.衛星通訊車整車維護。
2.衛星通訊站台維護。
3.衛星通訊系統調校。 | 1.衛星通訊站台。
2.SNG衛星通訊車。
3.衛星通訊系統調校。... |
| 6 | 遠場場型量測系統（Far Field Range） | 適用室內遠場各型天線場型量測 | 遠場場型量測系統（Far Field Range）... |
| 7 | 近場場型量測系統（Near Field Range） | 適用較高增益(³15dBi)之各類型天線之場型量測 | 近場場型量測系統（Near Field Range）... |
| 8 | 通用電子零組件進料檢驗 | 1.目視檢驗：外觀與尺寸、品質文件檢視。
2.電性及功能測試。 | 通用電子零組件進料檢驗... |