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技術類別
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資通與電子
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技術名稱
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通用電子零組件進料檢驗
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技術簡介
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1.目視檢驗：外觀與尺寸、品質文件檢視。
2.電性及功能測試。
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技術規格
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電子零組件規格書(datasheet)
MIL-STD-883 Method 3005.1
MIL-STD-883 Method 3006.1
MIL-STD-883 Method 3007.1
MIL-STD-883 Method 3009.1
MIL-STD-883 Method 3010.1
MIL-STD-883 Method 3014
MIL-STD-883 Method 3020
MIL-STD-883 Method 3021
MIL-STD-883 Method 4001.1
MIL-STD-883 Method 4002.1
MIL-STD-883 Method 4003.1
MIL-STD-883 Method 4005.1
MIL-STD-883 Method 4006.1
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技術特色
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依電子零組件規格書之重要參數與實驗室測試能量，提供各項電子零組件檢驗服務。
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應用範圍
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通用電子零組件進料檢驗
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主要機儀具
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1.積體電路測試系統。
2.數位IC測試器。
3.半導體元件自動測試系統。
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主要實驗室
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聯絡窗口
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陳冠儒
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電 話
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03-4712201 #356143
E06CKJ@ncsist.org.tw
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備考
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